2011年8月——美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）扩展其PXI平台的功能，通过新发布的每个引脚参数测量单元模块(PPMU)和源测量单元模块（SMU）用于半导体的特性描述和生产测试。NI PXIe-6556 200 MHz高速数字I / O具备PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低资本设备成本，缩短测试时间，并提升各种测试设备的混合信号灵活性。

    使用NI PXIe-6556高速数字I / O模块，工程师可以产生和获得一个高达200 MHz的数字波形或在同一针脚上，以 1% 误差率执行 DC 参数测量，从而简化布线，减少测试时间和提高直流参数测试仪的测量密度。此外，其内置的时序校准功能可自动调整时序，帮助工程师们消除不同连线与线路长度所造成的时序偏移，。NI PXIe-6556可选择是否以其他精度更高的NI SMU切换，工程师可基于硬件或软件触发器，进而触发参数测量。

    NI PXIe-4140/41 SMU模块可用于PXI Express插槽，提供多达4个SMU的通道，而4U的单一PXI机箱可提供多达68个SMU的通道,以轻松应对高针数设备的测试。高达每秒600,000样本的采样率，工程师们可以大大减少测量时间，或获取设备重要的瞬态特性。此外，NI PXIe-4141具备新一代的SourceAdapt技术，工程师们可根据任何给定的负载自定义调整SMU输出，以实现最大的稳定性和最小的瞬态倍。传统SMU技术无法提供此功能。

   结合使用NI LabVIEW系统设计软件，这些新PPMU和SMU模块为半导体测试提供了模块化的软件定义测量方式，从而提高质量，降低成本并减少整个测试验证，特性研究和生产的时间。 LabVIEW具有灵活性编程语言与先进的工程工具的力量，使工程师能够满足特定、定制化的要求。

   了解更多关于产品的信息请访问www.ni.com/lp/semiconductor