美国国家仪器（NI)有限公司

    简介：

　　当前，工业控制领域的竞争越发激烈，对于工业控制器的要求也越来越高。您可能需要把更高精度的测量和更高速度的控制集成到已有的系统中去。

　　本研讨会将为您带来高性能的测控解决方案。开放的软件平台不仅提供了多种高级算法加速开发流程，也可以方便地集成您已有的硬件产品降低系统升级成本。坚固可靠的硬件平台集成了当前最先进的FPGA技术，可以满足您对于高性能的测试和控制的需求。

    此外，NI的工业平台中还可以轻松集成机器视觉与运动控制系统，满足您个性化的系统应用需求。

    本次研讨会为以下工程师精心设计：

    控制工程师，自动化工程师，机械工程师及工业控制领域系统开发人员

    研讨会议程：

    工业自动化应用发展要求

    NI PAC满足您对于工业控制系统性能提升的要求

    高精度测量

    高性能分析

    集成FPGA的高级控制平台

    与现有平台方便的集成 

    NI机器视觉与运动控制解决方案

    用户案例分析
 
    提问与答疑 

    涉及的产品/应用/演示包括：

    LabVIEW，LabVIEW DSC，NI OPC Server

    CompactRIO，NI机器视觉平台，NI运动控制平台，Touch Panel

    CompactRIO Scan Mode演示

    用户案例介绍：

    钢铁冶金，轨道控制，汽车工业等行业对于高性能测量与控制的应用

    网络资源：

    更多相关资源，尽在ni.com/pac/zhs

    点击了解更多工业测量与控制

    NI PAC可编程自动化控制器技术资料包                          

    NI工业控制自动化解决方案文集                              

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    拨打免费电话 800 820 3622

    在线报名 点击以下场次

    名额有限，报名后我们将统一安排

    即将举办的研讨会场次： 

    2009/10/15 13:30 南通 

    2009/10/21 14:00 西安