2012年GE无损检测技术典型应用案例交流会顺利在上海召开

   2012年10月31日-11月2日，“2012年GE无损检测技术典型应用案例交流会”在上海GE中国科技园顺利召开。此次会议的目的是为了深入反映我国无损检测界所面临的全新挑战，展示业界的智慧成果，通过实际检测应用案例的分享和介绍，提升我国无损检测界的实际检测应用水平。
  
                   

   此次会上介绍的15个精选案例，是经过为期一个多月的案例征集，从30多个提交案例中，经过专家评审会从实用性、行业代表性、技术性、经济成本以及对其它行业的借鉴意义五个方面综合考虑评选出来的，分别由GE的专家、相关行业内的专家及用户来介绍。内容涉及超声、X射线、相控阵、数字射线、内窥镜等技术，行业涉及航空航天、电力、石油天然气、冶金等。

   此次交流会中，所有的参会人员还有机会参观了位于GE科技园中的X射线实验室以及GE检测控制技术在今年7月投入运营的客户应用中心。GE的专家向用户现场展示了GE新的技术和产品以及它们的实际操作情况，其中包括USM Go 超声波探伤仪、USM vision 焊缝超声波相控阵TOFD解决方案、Rightrax 腐蚀壁厚监控系列等。
 

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