GE X射线检测系统phoenix x|aminer

    2011年5月12日， GE推出新型微焦点X射线检测系统phoenix x|aminer。该系统采用ovhm（高放大率倾斜检测）模块，倾斜角度达70°，总体放大倍率几乎没有任何下降，高于23000x倍。确保在垂直方向上提供最佳质量的缺陷信息。开放式160kV的微焦点射线管易于维护，其阴极易于更换，从而保证了使用寿命，20W的管功率可以穿透某些对射线具有高吸收性的组件。

    特点：
   
    • 有5个轴，主要用于电子元件分装的质量控制，适用于焊点的可靠精确检测；

    • 具有2M像素的高分辨率和高放大率；

    • 强大的成像软件更具人性化设计，使用鼠标键盘操作，精确又简单。

    详情点击：http://www.geinspectiontechnologies.cn/

    摘自《自动化博览》2011年第五期