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标题 | 专用集成电路入检测试系统 |
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简介 | 专用集成电路入检测试系统是根据《专用集成电路入检测试系统研制要求》的设备用途,被测对象的主要技术指标,测试系统的组成、功能及主要技术指标制定。通过引入通用测试仪表组,运用GPIB总线控制等方法,开发研制了集成电路入检设备,该设备可对混合集成电路模块在常温条件下的技术指标进行测试。 |
内容 |
1. 引言专用集成电路在入厂检测时,须对其主要技术指标进行测试,以保证集成电路模块的性能、质量和可靠性。由于应用背景需要对8种不同的专用集成电路模块进行测试,为了提高测试效率,研制了本文中的专用集成电路入检测试系统,该系统可同时满足对上述8种不同的专用集成电路模块进行测试的要求。 专用集成电路测试系统具有如下功能: 2) &nb |