简介:

　　本次研讨会将会探讨下一代自动化测试系统发展的趋势和需求，并提出以软件为中心的模块化的解决方案，以构建灵活可扩展的、可靠的自动化测试系统。内容将涉及系统管理软件、应用软件、驱动和服务以及强大的PXI／PXI Express平台和模块化的I/O，并通过实际的产品演示和案例分析逐一介绍从直流到射频的多种模块化仪器的功能，涉及声音和振动测试、高速数字化仪和视频测试、高速数字I/O、射频测量、电源和源测量单元、数字万用表+开关、激励-响应测试等多种应用。此外，针对生产线测试还将提出基于TestStand的自动协调并行测试概念，帮助提升测试吞吐量/效率，降低测试成本。

　　本次研讨会为以下工程师精心设计:

　　自动化测试测量工程师、研究人员和系统架构师，生产线测试和设计人员

　　您将通过本次研讨会了解到：

　　
　　下一代自动化测试系统的发展趋势

　　构建以软件为核心的模块化测试系统

　　满足用户对高性能、可靠性、灵活性、可扩展性、低成本和长期使用性的要求

　　模块化仪器系统与应用案例介绍

　　声音和振动测试

　　高速数字化仪和视频测试

　　高速数字信号采集和验证

　　射频(RF)测量

　　可编程电源和源测量单元

　　数字万用表+开关

　　高速数据流盘

　　基于TestStand的自动协调并行测试等

　　Notes:以上研讨会安排可能会根据需要有所调整

　　涉及的产品/应用/演示包括：

　　LabVIEW，TestStand，DIAdem

　　PXI／PXI Express平台，从直流到射频的各类模块化硬件

　　用户案例介绍：

　　包括波音、Flextronics、CERN在内的多个行业的成功应用案例

　　网络资源：

　　新一代的自动化测试

　　PXI　

　　时间地点： 

　　8/5     沈阳     14:00-17:00    具体地点以电话确认为准

　　8/11    哈尔滨   14:00-17:00    具体地点以电话确认为准